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SD2000系列晶振測試系統

SD2000系列晶振測試系統

詳細說明


主要特點


由微機、射頻開關和高分辨率計數器組成自動測試系統


可用于晶振老化測試和溫度測試,自動完成老化漂移、穩定度、準確度、日波動等參數的測量


通過射頻開關的組合,可組成64-N路測試矩陣


自動記錄儲存測試數據,自動形成測試曲線


主要技術指標

頻率范圍:DC~100MHz

隔離度:120dB(5MHz); 90dB (100MHz)


河南麥瑞克電子科技有限公司

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